STN EN 62373
Označenie: | STN EN 62373 |
Platnosť: | Platná |
Počet strán: | 20 |
Jazyk: |
EN
|
Listinná verzia: | 14,10€ |
Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
Slovenský názov: | Skúška vplyvu teploty na stabilitu poľom riadených tranzistorov s hradlom izolovaným oxidom (MOSFET) |
Anglický názov: | Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) |
Dátum vydania: | 01. 05. 2007 |
Dátum zrušenia: | |
ICS: | 31.080 |
Triediaci znak: | 35 8794 |
Úroveň zapracovania: | idt EN 62373:2006, idt IEC 62373:2006 |
Vestník: | 04/07 |
Zmeny: | |
Nahradzujúce normy: | |
Nahradené normy: | |
Poznámka vo Vestníku: | |
Predmet normy: |