STN EN 60749-35
| Označenie: | STN EN 60749-35 |
| Platnosť: | Platná |
| Počet strán: | 28 |
| Jazyk: |
EN
|
| Listinná verzia: | 14,10€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
| Slovenský názov: | Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 35: Akustická mikroskopia pre elektronické súčiastky v plastovom puzdre |
| Anglický názov: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components |
| Dátum vydania: | 01. 06. 2007 |
| Dátum zrušenia: | |
| ICS: | 31.080.01 |
| Triediaci znak: | 35 8799 |
| Úroveň zapracovania: | idt IEC 60749-35:2006, idt EN 60749-35:2006 |
| Vestník: | 05/07 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | |
| Nahradené normy: | |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: |