STN EN 62374
| Označenie: | STN EN 62374 |
| Platnosť: | Zrušená |
| Počet strán: | 26 |
| Jazyk: |
EN
|
| Listinná verzia: | 14,10€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
| Slovenský názov: | Polovodičové súčiastky. Skúška časovo závislého prierazu dielektrika (TDDB) hradlových dielektrických vrstiev |
| Anglický názov: | Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films |
| Dátum vydania: | 01. 07. 2008 |
| Dátum zrušenia: | 01. 11. 2013 |
| ICS: | 31.080.01 |
| Triediaci znak: | 35 8794 |
| Úroveň zapracovania: | idt IEC 62374:2007, idt EN 62374:2007 |
| Vestník: | 06/08 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | STN EN 62374-1:2011-04 (35 8794) |
| Nahradené normy: | |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: |