STN EN 60749-44
Označenie: | STN EN 60749-44 |
Platnosť: | Platná |
Počet strán: | 27 |
Jazyk: |
EN
|
Listinná verzia: | 14,10€ |
Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
Slovenský názov: | Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšky. Časť 44: Skúšobná metóda na účinok jednotlivej udalosti ožiarenia neutrónovým lúčom pre polovodičové súčiastky |
Anglický názov: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices |
Dátum vydania: | 01. 04. 2017 |
Dátum zrušenia: | |
ICS: | 31.080.01 |
Triediaci znak: | 35 8799 |
Úroveň zapracovania: | idt EN 60749-44:2016, idt IEC 60749-44:2016 |
Vestník: | 03/17 |
Zmeny: | |
Nahradzujúce normy: | |
Nahradené normy: | |
Poznámka vo Vestníku: | |
Predmet normy: | |
Náhľad normy: | Náhľad normy (PDF) |