STN EN IEC 60749-41
| Označenie: | STN EN IEC 60749-41 |
| Platnosť: | Platná |
| Počet strán: | 28 |
| Jazyk: |
EN
|
| Listinná verzia: | 14,10€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
| Slovenský názov: | Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 41: Štandardné metódy testovania spoľahlivosti nezávislých pamäťových zariadení |
| Anglický názov: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices |
| Dátum vydania: | 01. 12. 2020 |
| Dátum zrušenia: | |
| ICS: | 31.080.01 |
| Triediaci znak: | 35 8799 |
| Úroveň zapracovania: | idt EN IEC 60749-41:2020, idt IEC 60749-41:2020 |
| Vestník: | 11/20 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | |
| Nahradené normy: | |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: | IEC 60749-41:2020 specifies the procedural requirements for performing valid endurance, retention and cross-temperature tests based on a qualification specification. Endurance and retention qualification specifications (for cycle counts, durations, temperatures, and sample sizes) are specified in JESD47 or are developed using knowledge-based methods such as in JESD94. |
| Náhľad normy: | Náhľad normy (PDF) |