STN EN IEC 60749-37
| Označenie: | STN EN IEC 60749-37 |
| Platnosť: | Platná |
| Počet strán: | 28 |
| Jazyk: |
EN
|
| Listinná verzia: | 14,10€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
| Slovenský názov: | Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 37: Skúšobná metóda pádom osadenej dosky s použitím merača zrýchlenia |
| Anglický názov: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer |
| Dátum vydania: | 01. 02. 2023 |
| Dátum zrušenia: | |
| ICS: | 31.080.01 |
| Triediaci znak: | 35 8799 |
| Úroveň zapracovania: | idt EN IEC 60749-37:2022, idt IEC 60749-37:2022 |
| Vestník: | 01/23 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | |
| Nahradené normy: | STN EN 60749-37:2008-11 (35 8799) |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: | IEC 60749-37:2022 provides a test method that is intended to evaluate and compare drop performance of surface mount electronic components for handheld electronic product applications in an accelerated test environment, where excessive flexure of a circuit board causes product failure. The purpose is to standardize the test board and test methodology to provide a reproducible assessment of the drop test performance of surface-mounted components while producing the same failure modes normally observed during product level test. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: - correction of a previous technical error concerning test conditions; - updates to reflect improvements in technology. |
| Náhľad normy: | Náhľad normy (PDF) |