STN 35 6575
| Označenie: | STN 35 6575 |
| Platnosť: | Platná |
| Počet strán: | 68 |
| Jazyk: |
CS
|
| Listinná verzia: | 17,20€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
15,48€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 17,20€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 22,36€ |
| Slovenský názov: | Spektrometre energií žiarenia X s polovodičovými detektormi. Metódy skúšania |
| Anglický názov: | Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers |
| Dátum vydania: | 14. 03. 1991 |
| Dátum zrušenia: | |
| ICS: | 17.240 |
| Triediaci znak: | 35 6575 |
| Úroveň zapracovania: | eqv IEC 60759:1983 |
| Vestník: | 12/91 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | |
| Nahradené normy: | |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: |