Zoznam vybraných noriem
Zoradiť podľa: Triediaceho znaku
Triediaci znak: 358794
Počet záznamov: 4
Skúška vplyvu teploty na stabilitu poľom riadených tranzistorov s hradlom izolovaným oxidom (MOSFET)
Vydanie: 01.05.2007
Polovodičové súčiastky. Časť 1: Skúška časovo závislého prierazu dielektrika (TDDB) intermetalických vrstiev
Vydanie: 01.04.2011
Polovodičové súčiastky. Časť 1: Skúška časovo závislého prierazu dielektrika (TDDB) intermetalických vrstiev
Vydanie: 01.06.2011
Polovodičové súčiastky. Skúška časovo závislého prierazu dielektrika (TDDB) hradlových dielektrických vrstiev
Vydanie: 01.07.2008