Zoznam vybraných noriem
ICS: 31.080
Počet záznamov: 311
Skúška vplyvu teploty na stabilitu poľom riadených tranzistorov s hradlom izolovaným oxidom (MOSFET)
Vydanie: 01.05.2007
Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 35: Akustická mikroskopia pre elektronické súčiastky v plastovom puzdre
Vydanie: 01.06.2007
Polovodičové súčiastky. Elektromechanické mikrosúčiastky. Časť 2: Skúšobné metódy tenkovrstvových materiálov v ťahu
Vydanie: 01.06.2007
Polovodičové súčiastky. Elektromechanické mikrosúčiastky. Časť 3: Tenkovrstvové normalizované skúšobné kusy na skúšky v ťahu
Vydanie: 01.06.2007
Polovodičové čipové výrobky. Časť 5: Požiadavky na informácie vzťahujúce sa na elektrickú simuláciu
Vydanie: 01.06.2007
Polovodičové čipové výrobky. Časť 6: Požiadavky na informácie vzťahujúce sa na tepelnú simuláciu
Vydanie: 01.06.2007
Polovodičové súčiastky. Časť 16-1: Mikrovlnné integrované obvody. Zosilňovače
Vydanie: 01.11.2007
Normalizácia rozmerov polovodičových súčiastok. Časť 6-16: Slovník skúšobných a zahorovacích pätíc BGA, LGA, FBGA a FLGA pre polovodiče
Vydanie: 01.02.2008
Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 37: Skúšobná metóda pádom osadenej dosky s použitím merača zrýchlenia
Vydanie: 01.11.2008
Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 38: Softvérová skúšobná metóda chýb polovodičových súčiastok s pamäťou
Vydanie: 01.01.2009
Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 20-1: Manipulácia, balenie, označovanie a preprava súčiastok na povrchovú montáž citlivých na kombinované pôsobenie vlhka a spájkovacieho tepla
Vydanie: 01.09.2009
Normalizácia rozmerov polovodičových súčiastok. Časť 6-18: Všeobecné pravidlá na prípravu výkresov puzdier polovodičových súčiastok na povrchovú montáž. Príručka na navrhovanie guľového mriežkového poľa (BGA)
Vydanie: 01.06.2010
Polovodičové súčiastky. Elektromechanické mikrosúčiastky. Časť 6: Skúšobné metódy tenkovrstvových materiálov na axiálne namáhanie
Vydanie: 01.06.2010
Normalizácia rozmerov polovodičových súčiastok. Časť 6: Všeobecné pravidlá na prípravu výkresov puzdier polovodičových súčiastok na povrchovú montáž
Vydanie: 01.06.2010
Normalizácia rozmerov polovodičových súčiastok. Časť 6-19: Metódy merania deformácie puzdra pri zvýšenej teplote a maximálna dovolená deformácia
Vydanie: 01.10.2010
Polovodičové súčiastky. Skúška elektromigrácie pri konštantnom prúde
Vydanie: 01.10.2010
Polovodičové súčiastky. Skúška horúcich nosičov u tranzistorov MOS
Vydanie: 01.10.2010
Polovodičové súčiastky. Skúška pohyblivých iónov v poľom riadených tranzistoroch s hradlom izolovaným oxidom kovu (MOSFET)
Vydanie: 01.10.2010
Polovodičové súčiastky. Skúšky kvality pokovovania
Vydanie: 01.11.2010
Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 19: Pevnosť v strihu
Vydanie: 01.12.2010
Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 32: Horľavosť plastových zapuzdrených súčiastok (zapríčinená zvonku)
Vydanie: 01.12.2010