STN EN 60749-38
| Označenie: | STN EN 60749-38 |
| Platnosť: | Platná |
| Počet strán: | 17 |
| Jazyk: |
EN
|
| Listinná verzia: | 14,10€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
| Slovenský názov: | Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 38: Softvérová skúšobná metóda chýb polovodičových súčiastok s pamäťou |
| Anglický názov: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory |
| Dátum vydania: | 01. 01. 2009 |
| Dátum zrušenia: | |
| ICS: | 31.080.01 |
| Triediaci znak: | 35 8799 |
| Úroveň zapracovania: | idt IEC 60749-38:2008, idt EN 60749-38:2008 |
| Vestník: | 12/08 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | |
| Nahradené normy: | |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: |