Oficiálna stránka

Doména gov.sk je oficálna

Toto je oficiálna webová stránka orgánu verejnej moci Slovenskej republiky. Oficiálne stránky využívajú najmä doménu gov.sk. Odkazy na jednotlivé webové sídla orgánov verejnej moci nájdete na tomto odkaze.

Táto stránka je zabezpečená

Buďte pozorní a vždy sa uistite, že zdieľate informácie iba cez zabezpečenú webovú stránku verejnej správy SR. Zabezpečená stránka vždy začína https:// pred názvom domény webového sídla.

  1. Domov
  2. STN EN IEC 60749-26

STN EN IEC 60749-26

Späť

Listinná forma

Pridať do košíka

Elektronická forma (pdc súbor)

Pridať do košíka
Označenie: STN EN IEC 60749-26
Platnosť: Platná
Počet strán: 57
Jazyk:
EN
Listinná verzia: 21,40€
Elektronická verzia: a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov: 19,26€
b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 21,40€
c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 27,82€
Slovenský názov: Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 26: Skúšanie citlivosti na elektrostatický výboj (ESD). Model ľudského tela (HBM)
Anglický názov: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Dátum vydania: 01. 02. 2019
Dátum zrušenia:
ICS: 31.080.01
Triediaci znak: 35 8799
Úroveň zapracovania: idt EN IEC 60749-26:2018, idt IEC 60749-26:2018
Vestník: 01/19
Zmeny:
Nahradzujúce normy:
Nahradené normy: STN EN 60749-26:2015-02 (35 8799)
Poznámka vo Vestníku:
Predmet normy: IEC 60749-26:2018 establishes the procedure for testing, evaluating, and classifying components and microcircuits according to their susceptibility (sensitivity) to damage or degradation by exposure to a defined human body model (HBM) electrostatic discharge (ESD). The purpose of this document is to establish a test method that will replicate HBM failures and provide reliable, repeatable HBM ESD test results from tester to tester, regardless of component type. Repeatable data will allow accurate classifications and comparisons of HBM ESD sensitivity levels. ESD testing of semiconductor devices is selected from this test method, the machine model (MM) test method (see IEC 60749-27) or other ESD test methods in the IEC 60749 series. Unless otherwise specified, this test method is the one selected. This fourth edition cancels and replaces the third edition published in 2013. This edition constitutes a technical revision.
Náhľad normy: Náhľad normy (PDF)