STN EN IEC 60749-28
| Označenie: | STN EN IEC 60749-28 |
| Platnosť: | Platná |
| Počet strán: | 56 |
| Jazyk: |
EN
|
| Listinná verzia: | 21,40€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
19,26€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 21,40€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 27,82€ |
| Slovenský názov: | Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 28: Skúšanie citlivosti na elektrostatický výboj (ESD). Model nabitej súčiastky (CDM) – úroveň zariadenia |
| Anglický názov: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level |
| Dátum vydania: | 01. 07. 2022 |
| Dátum zrušenia: | |
| ICS: | 31.080.01 |
| Triediaci znak: | 35 8799 |
| Úroveň zapracovania: | idt EN IEC 60749-28:2022, idt IEC 60749-28:2022 |
| Vestník: | 06/22 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | |
| Nahradené normy: | STN EN 60749-28:2018-01 (35 8799) |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: | IEC 60749-28:2022 establishes the procedure for testing, evaluating, and classifying devices and microcircuits according to their susceptibility (sensitivity) to damage or degradation by exposure to a defined field-induced charged device model (CDM) electrostatic discharge (ESD). All packaged semiconductor devices, thin film circuits, surface acoustic wave (SAW) devices, opto-electronic devices, hybrid integrated circuits (HICs), and multi-chip modules (MCMs) containing any of these devices are to be evaluated according to this document. To perform the tests, the devices are assembled into a package similar to that expected in the final application. This CDM document does not apply to socketed discharge model testers. This document describes the field-induced (FI) method. An alternative, the direct contact (DC) method, is described in Annex J. |
| Náhľad normy: | Náhľad normy (PDF) |