Oficiálna stránka

Doména gov.sk je oficálna

Toto je oficiálna webová stránka orgánu verejnej moci Slovenskej republiky. Oficiálne stránky využívajú najmä doménu gov.sk. Odkazy na jednotlivé webové sídla orgánov verejnej moci nájdete na tomto odkaze.

Táto stránka je zabezpečená

Buďte pozorní a vždy sa uistite, že zdieľate informácie iba cez zabezpečenú webovú stránku verejnej správy SR. Zabezpečená stránka vždy začína https:// pred názvom domény webového sídla.

  1. Domov
  2. STN P CEN/TS 18094

STN P CEN/TS 18094

Späť

Listinná forma

Pridať do košíka

Elektronická forma (pdc súbor)

Pridať do košíka
Označenie: STN P CEN/TS 18094
Platnosť: Platná
Počet strán: 52
Jazyk:
EN
Listinná verzia: 21,40€
Elektronická verzia: a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov: 19,26€
b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 21,40€
c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 27,82€
Slovenský názov: Nedeštruktívne skúšanie. Skúšobná metóda na stanovenie zvyškových napätí röntgenovou difrakciou použitím synchrotrónu
Anglický názov: Non-destructive testing - Test method for determining residual stresses by synchrotron x-ray diffraction
Dátum vydania: 01. 04. 2025
Dátum zrušenia:
ICS: 19.100
Triediaci znak: 01 5045
Úroveň zapracovania: idt CEN/TS 18094:2024
Vestník: 03/25
Zmeny:
Nahradzujúce normy:
Nahradené normy:
Poznámka vo Vestníku: Táto predbežná slovenská technická norma je určená na overenie. Prípadné pripomienky pošlite do decembra 2026 Úradu pre normalizáciu, metrológiu a skúšobníctvo Slovenskej republiky.
Predmet normy: This document describes the test method for determining residual stresses in polycrystalline materials by the synchrotron X-ray diffraction method. The method can be applied to both homogeneous and inhomogeneous materials including those containing distinct phases. Information on how to carry out residual stress measurements by the synchrotron X-ray diffraction technique is provided as: - the selection of appropriate diffracting lattice planes on which measurements should be made for different categories of materials, - the specimen directions in which the measurements should be performed, - the volume of material examined in relation to the material grain size and the envisaged stress state, - the selection of the stress-free reference (sample) facilitating the residual strain calculation, and - the methods available for deriving residual stresses from the measured strain data. Procedures are presented for calibrating synchrotron X-ray diffraction instruments, enabling: - accurately positioning and ...
Náhľad normy: Náhľad normy (PDF)