STN EN IEC 60749-23
| Označenie: | STN EN IEC 60749-23 |
| Platnosť: | Platná |
| Počet strán: | 16 |
| Jazyk: |
EN
|
| Listinná verzia: | 14,10€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
| Slovenský názov: | Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 23: Životnosť pri vysokej teplote |
| Anglický názov: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life |
| Dátum vydania: | 01. 05. 2026 |
| Dátum zrušenia: | |
| ICS: | 31.080.01 |
| Triediaci znak: | 35 8799 |
| Úroveň zapracovania: | idt EN IEC 60749-23:2026, idt IEC 60749-23:2025 |
| Vestník: | 04/26 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | |
| Nahradené normy: | STN EN 60749-23:2004-10 (35 8799) |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: | IEC 60749-23:2025 specifies the test used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way and is primarily for device qualification and reliability monitoring. A form of high temperature bias life using a short duration, popularly known as "burn-in", can be used to screen for infant-mortality related failures. The detailed use and application of burn-in is outside the scope of this document. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) absolute stress test definitions and resultant test durations have been updated. |
| Náhľad normy: | Náhľad normy (PDF) |