STN EN 60444-2
| Označenie: | STN EN 60444-2 |
| Platnosť: | Platná |
| Počet strán: | 12 |
| Jazyk: |
EN
|
| Listinná verzia: | 14,10€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
| Slovenský názov: | Meranie parametrov kremenných kryštálových jednotiek technikou nulovej fázy v pí-článku. Časť 2::Meranie dynamickej kapacitancie kremenných kryštálových jednotiek metódou fázového ofsetu |
| Anglický názov: | Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units |
| Dátum vydania: | 01. 12. 2000 |
| Dátum zrušenia: | |
| ICS: | 31.140 |
| Triediaci znak: | 35 8490 |
| Úroveň zapracovania: | idt EN 60444-2:1997, idt IEC 60444-2:1980 |
| Vestník: | 11/00 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | |
| Nahradené normy: | |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: |