STN EN 60749-29
| Označenie: | STN EN 60749-29 |
| Platnosť: | Zrušená |
| Počet strán: | 28 |
| Jazyk: |
EN
|
| Listinná verzia: | 14,10€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
| Slovenský názov: | Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 29: Skúška latch-up |
| Anglický názov: | Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 29: Latch-up test |
| Dátum vydania: | 01. 07. 2004 |
| Dátum zrušenia: | 12. 05. 2014 |
| ICS: | 31.080.01 |
| Triediaci znak: | 35 8799 |
| Úroveň zapracovania: | idt EN 60749-29:2003, idt EN 60749-29:2003/corr. Mar.:2004, idt IEC 60749-29:2003 |
| Vestník: | 06/04 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | STN EN 60749-29:2011-12 (35 8799) |
| Nahradené normy: | |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: |