STN EN IEC 60749-17
| Označenie: | STN EN IEC 60749-17 |
| Platnosť: | Platná |
| Počet strán: | 16 |
| Jazyk: |
EN
|
| Listinná verzia: | 14,10€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
| Slovenský názov: | Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 17: Neutrónové žiarenie |
| Anglický názov: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation |
| Dátum vydania: | 01. 10. 2019 |
| Dátum zrušenia: | |
| ICS: | 31.080.01 |
| Triediaci znak: | 35 8799 |
| Úroveň zapracovania: | idt EN IEC 60749-17:2019, idt IEC 60749-17:2019 |
| Vestník: | 09/19 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | |
| Nahradené normy: | STN EN 60749-17:2003-11 (35 8799) |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: | IEC 60749-17:2019 is performed to determine the susceptibility of semiconductor devices to non-ionizing energy loss (NIEL) degradation. The test described herein is applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices and is intended for military- and aerospace-related applications. It is a destructive test. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a. updates to better align the test method with MIL-STD 883J, method 1017, including removal of restriction of use of the document, and a requirement to limit the total ionization dose; b.addition of a Bibliography, including US MIL- and ASTM standards relevant to this test method. |
| Náhľad normy: | Náhľad normy (PDF) |