STN EN IEC 63616
| Označenie: | STN EN IEC 63616 |
| Platnosť: | Platná |
| Počet strán: | 20 |
| Jazyk: |
EN
|
| Listinná verzia: | 14,10€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
| Slovenský názov: | Meranie vodivosti tenkých kovových vrstiev pri mikrovlnových a milimetervlnových frekvenciách. Metóda symetrického kruhového diskového rezonátora |
| Anglický názov: | Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method |
| Dátum vydania: | 01. 04. 2026 |
| Dátum zrušenia: | |
| ICS: | 17.220.20, 29.050 |
| Triediaci znak: | 35 3817 |
| Úroveň zapracovania: | idt EN IEC 63616:2026, idt IEC 63616:2025 |
| Vestník: | 03/26 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | |
| Nahradené normy: | |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: | IEC 63616:2025 relates to a conductivity measurement method of thin metal films at microwave and millimeter-wave frequencies. This method has been developed to evaluate the conductivity of a metal foil used for adhering to a substrate or the interfacial conductivity of a metal layer formed on a dielectric substrate. It uses higher-order modes of a balanced-type circular disk resonator and provides broadband conductivity measurements by using a single resonator. |
| Náhľad normy: | Náhľad normy (PDF) |