STN 35 8749
| Označenie: | STN 35 8749 |
| Platnosť: | Zrušená |
| Počet strán: | 4 |
| Jazyk: |
CS
|
| Listinná verzia: | 1,90€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
1,71€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 1,90€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 2,47€ |
| Slovenský názov: | Meranie polovodičových súčiastok. Tranzistory. Meranie absolútnej hodnoty prenosovej admitancie nakrátko |
| Anglický názov: | Semiconductor devices. Transistors. Measurement of absolute value of short-circuit forward transfer admittance |
| Dátum vydania: | 01. 08. 1973 |
| Dátum zrušenia: | 01. 09. 2004 |
| ICS: | 17.220.20, 31.080.30 |
| Triediaci znak: | 35 8749 |
| Úroveň zapracovania: | |
| Vestník: | |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | |
| Nahradené normy: | |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: |