STN EN IEC 63202-1
| Označenie: | STN EN IEC 63202-1 |
| Platnosť: | Platná |
| Počet strán: | 16 |
| Jazyk: |
EN
|
| Listinná verzia: | 14,10€ |
| Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
| Slovenský názov: | Fotovoltické články. Časť 1: Meranie svetelne indukovanej degradácie fotovoltických článkov z kryštalického kremíka |
| Anglický názov: | Photovoltaic cells - Part 1: Measurement of light-induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells |
| Dátum vydania: | 01. 02. 2020 |
| Dátum zrušenia: | |
| ICS: | 27.160 |
| Triediaci znak: | 36 4608 |
| Úroveň zapracovania: | idt EN IEC 63202-1:2019, idt IEC 63202-1:2019 |
| Vestník: | 01/20 |
| Zmeny: | |
| Nahradzujúce normy: | |
| Nahradené normy: | |
| Poznámka vo Vestníku: | |
| Predmet normy: | IEC 63202-1:2019 describes procedures for measuring the light-induced degradation (LID) of crystalline silicon photovoltaic (PV) cells in simulated sunlight. The magnitude of LID in a crystalline silicon PV cell is determined by comparing maximum output power at Standard Test Conditions (STC) before, and after, exposure to simulated sunlight at a specified temperature and irradiance. The purpose of this document is to provide standardized PV cell LID information to help PV module manufacturers in minimizing the mismatch between cells within the same module, thereby maximizing power yield. |
| Náhľad normy: | Náhľad normy (PDF) |